[发明专利]测试机构、测试方法及分光机在审
| 申请号： | 202111069623.0 | 申请日： | 2021-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN113787022A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 段雄斌;曹亮;周巍;何选民 | 申请（专利权）人： | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/344;B07C5/02 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 贺鹏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道三围社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试机构、测试方法及分光机，该测试机构用于对分选件进行测试，包括：支撑座，用于支撑分选件，支撑座上开设有通孔；校正定位组件，位于支撑座的上方，用于夹持并定位分选件；测试针，位于支撑座的下方；测试驱动组件，与测试针相连，用于驱动测试针进出通孔以使该测试针靠近或远离分选件。本申请通过支撑座将分选件支撑，在支撑座的上方设置校正定位组件，在支撑座的下方设置测试针和用于驱动测试针升降的测试驱动组件。当测试驱动组件驱动测试针上升时，测试针穿过支撑座上的通孔并与分选件的引脚接触导通，从而可对分选件进行测试。本申请提供的测试机构对于引脚位于底部的球头LED芯片的测试操作方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 机构 方法 分光 | ||
【主权项】：
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