[发明专利]基于单一标准FRET质粒测量FRET系统矫正参数的方法及其应用有效
| 申请号： | 202111083669.8 | 申请日： | 2021-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN113899722B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 陈同生;刘智 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 刘瑜 |
| 地址： | 510631 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于单一标准FRET质粒测量FRET系统矫正参数的方法及其应用。本发明方法仅需对转染了一种标准FRET质粒的细胞进行三通道荧光成像，通过物理分析与数学计算方程，即可计算得到FRET系统矫正参数β，λ，G因子和k因子，将原本至少需使用四种实验样本减少到一种，极大减少了必须使用的生物样本数量，提高了实验效率，具有很高的便捷性、稳定性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 单一 标准 fret 质粒 测量 系统 矫正 参数 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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