[发明专利]可控硅失效检测报警装置、系统以及测验方法在审
| 申请号： | 202111088362.7 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113671337A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 张正荣 | 申请（专利权）人： | 江苏捷捷微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/28;H02H3/087;H02H3/04;H02H1/00 |
| 代理公司： | 南通鼎点知识产权代理事务所(普通合伙) 32442 | 代理人： | 胡建锋 |
| 地址： | 226000 江苏省南通*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了可控硅失效检测报警装置，包括控制电路以及与控制电路电性连接的检测电路、常闭开关电路；检测电路，用于采样电路中的电流值并传输控制电路；控制电路，用于接收处理检测电路传输的电流值，并获取预设时间内电流值对应的波形状态，根据波形状态确认可控硅为被击穿的失效状态时向常闭开关电路发送控制信号；常闭开关电路，用于在接收到控制电路的控制信号后，控制常闭开关电路断开，切断电路电流。本发明有效的保护电路的安全，防止可控硅短路过流带来的负面影响，提高人员的工作效率，降低事故发生的风险等级。 | ||
| 搜索关键词： | 可控硅 失效 检测 报警装置 系统 以及 测验 方法 | ||
【主权项】：
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