[发明专利]芯片测试装置与芯片测试系统在审
| 申请号： | 202111088398.5 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113791333A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 彭聪;李康 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 霍文娟 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片测试装置与芯片测试系统。该芯片测试装置包括电源设备和测试设备，其中，电源设备用于为多个待测芯片提供VCC，测试设备，包括第一电源和控制芯片，第一电源与控制芯片电连接以向控制芯片提供VCCQ，第一电源还用于与待测芯片电连接以向待测芯片提供VCCQ，控制芯片用于在VCCQ的控制下产生测试信号并发送至待测芯片。因此，该芯片测试装置，通过采用一个电源同时为控制芯片和待测芯片提供VCCQ的方式，避免了当待测芯片侧有电，测试设备侧没有供电时，会产生电势差的情况，进而解决了现有技术中的测试设备和待测芯片之间的VCCQ来源不同而导致的漏电的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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