[发明专利]一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法在审
| 申请号： | 202111092414.8 | 申请日： | 2021-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN113804225A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 韩庆阳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01D5/347 | 分类号： | G01D5/347 |
| 代理公司： | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人： | 宁晓丹 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法涉及光电编码器技术领域，解决了现有抗污渍方法对密封和使用环境要求严苛，一旦码盘被污染编码器将无法使用的缺点的问题，方法包括：第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。本发明无需对其码盘密封进行加固，大幅度的降低对使用环境的要求，提高了环境适应力，提高编码器的测量精度和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝对 光电 编码器 污渍 测量方法 | ||
【主权项】：
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