[发明专利]一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法在审
| 申请号： | 202111137050.0 | 申请日： | 2021-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN115865086A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 李骥尧;陈覃;张厚政;申晓杰 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 许志宏 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；测试条件包括正、负极性测试pattern；正、负极性测试pattern中的测试位数为n‑1，n为双极性ADC的位数；ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取待测双极性ADC静态参数DNL，并判断所述待测双极性ADC静态参数DNL是否测试通过。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate 极性 adc 静态 参数 dnl 快速 测试 方法 | ||
【主权项】：
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