[发明专利]晶粒检测样本自动生成方法和装置有效
| 申请号： | 202111143793.9 | 申请日： | 2021-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN113570604B | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 刘荣华;熊柏泰 | 申请（专利权）人： | 武汉精创电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/80;G06T5/00;G06T3/40 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430205 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶粒检测样本自动生成方法，包括：获取多个相同类型晶粒的多张晶粒检测图像；根据多张所述晶粒检测图像之间的重叠区域进行图像对位，并获取每个所述晶粒对应的固定区域图像；根据不同所述晶粒之间的所述固定区域图像进行筛选，选取出现次数最多的所述固定区域图像作为晶粒检测样本。其可以解决传统Golden Die通过人工筛选检测图像再进行手动对位的方式来获取存在样本数量多、部分晶粒无法拍全而导致挑选困难以及手动对位不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 晶粒 检测 样本 自动 生成 方法 装置 | ||
【主权项】：
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