[发明专利]一种薄膜检测方法、装置、终端设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111158333.3 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN113884403B | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 应小维;曹生轩;朱晓宇;魏东;袁海江 | 申请（专利权）人： | 滁州惠科光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/56 | 分类号： | G01N3/56 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张海燕 |
| 地址： | 239000 安徽省滁*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请适用于薄膜检测技术领域，提供了一种薄膜检测方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中以预设测试负载对待测样品的薄膜预设区域进行摩擦测试；确定上述薄膜预设区域的薄膜磨损曲线；上述薄膜磨损曲线为上述薄膜预设区域内的各个位置与磨损深度之间的对应关系曲线；根据上述薄膜磨损曲线确定上述待测样品的薄膜强度，从而提高了检测薄膜强度的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 检测 方法 装置 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于滁州惠科光电科技有限公司;惠科股份有限公司，未经滁州惠科光电科技有限公司;惠科股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111158333.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
