[发明专利]伺服系统寿命试验方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 202111169967.9 | 申请日： | 2021-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN113607455B | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 刘文威;郭广廓;董成举;潘广泽;樊依圣;林家领;王远航;陈勃琛;王春辉 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓丹 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种伺服系统寿命试验方法、装置、计算机设备和存储介质，该方法包括：获取伺服系统参数和伺服系统寿命试验的预设载荷条件；预设载荷条件下的载荷大小大于额定工况下对应的载荷大小；预设载荷条件包括伺服电机的惯性载荷条件，以及伺服驱动器的温度载荷条件；根据惯性载荷条件、温度载荷条件和伺服系统参数，计算伺服系统加速因子；根据伺服系统参数和伺服系统加速因子，确定加速寿命试验时间；输出寿命试验开始指令；寿命试验开始指令用于指示用户在加速寿命试验时间内，将预设载荷条件施加于待测伺服系统，进行伺服系统寿命试验。上述伺服系统寿命试验方法，可以降低伺服系统寿命试验的时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 伺服系统 寿命 试验 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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