[发明专利]利用实验测量毕奥-萨伐尔定律中距离修正常数的方法在审

专利信息
申请号: 202111172299.5 申请日: 2021-10-08
公开(公告)号: CN113866689A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 马龙 申请(专利权)人: 马锐
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02;G06F17/18;G09B23/18
代理公司: 北京智泽德世专利商标代理事务所(普通合伙) 11934 代理人: 李立娟
地址: 100039 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 利用实验测量毕奥‑萨伐尔定律中距离修正常数的方法,是利用可测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P1处测量该处的磁感应强度,得到该处磁感应强度参数B1,利用测距装置测量空间点P1与长导线的中心线之间的距离,得到距离参数R1;然后再沿着长导线的垂直方向移动测量磁感应强度的装置,在长导线附近的空间点P2处测量该处的磁感应强度,得到该处磁感应强度参数B2,利用测距装置测量空间点P2与长导线的中心线之间的距离,得到距离参数R2。其目的是提供一种可解决现有的毕奥‑萨伐尔定律存在明显的缺陷,精确得到毕奥‑萨伐尔定律的距离修正常数的利用实验测量毕奥‑萨伐尔定律中距离修正常数的方法。
搜索关键词: 利用 实验 测量 萨伐尔 定律 中距离 修正 常数 方法
【主权项】:
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