[发明专利]一种数字测试向量自动学习方法及系统有效
| 申请号： | 202111196378.X | 申请日： | 2021-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN113641545B | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 刘万超;毛国梁 | 申请（专利权）人： | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 南京新众合专利代理事务所(普通合伙) 32534 | 代理人： | 彭雄 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数字测试向量自动学习方法及系统，包括上位机、图形发生器PG、驱动器DRIVER、比较器COMPARE、历史存储器HRAM，编写图形文件，图形文件包括输入脚时序和输出脚时序，其中，输入脚时序由被测器件给出，输出脚时序设置为学习状态；运行图形文件，对运行状态进行记录；读取记录的运行状态数据，获取运行状态数据中某个时间内记录的输出管脚状态；将获取的输出管脚状态对运行的图形文件中的输出脚时序进行修正，得到修正后的输出时序，进而得到修正后的图形文件。本发明极大的提升了开发效率，也减少了对芯片输出脚特性的编写，降低了编写难度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字 测试 向量 自动 学习方法 系统 | ||
【主权项】：
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