[发明专利]电子设备的自诊断装置在审

专利信息
申请号: 202111198386.8 申请日: 2021-10-14
公开(公告)号: CN114509617A 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 金秉奎;金秉润 申请(专利权)人: 普适福了有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/52;G01K13/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 龚伟;李鹤松
地址: 韩国首*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种电子设备的自诊断装置,其包括:向量存储器,其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、与根据DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码;测试数据存储器,其被配置为存储测试数据;以及安全区域测试控制器,其被配置为选择测试模式,控制施加到DUT的测试信号的环境变量并测试DUT,将功能测试期望值与测试功能代码结果值进行比较,并将DFT测试期望值与DFT测试代码结果值进行比较,以输出比较结果信息。
搜索关键词: 电子设备 诊断 装置
【主权项】:
暂无信息
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