[发明专利]一种LED晶粒外观检测方法有效
| 申请号： | 202111198694.0 | 申请日： | 2021-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN114130709B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 黎银英;陈桂飞;岑崇江 | 申请（专利权）人： | 佛山市国星半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 胡枫;李素兰 |
| 地址： | 528200 广东省佛山市南海区狮*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED晶粒外观检测方法，包括对LED晶粒进行光学检测，获得外观参数文档；根据所述外观参数文档将所述LED晶粒分为第一合格晶粒、第一不合格晶粒和可疑晶粒；获取可疑晶粒的图片，并根据所述可疑晶粒的图片判断所述可疑晶粒的外观缺陷种类；根据所述外观缺陷种类将所述可疑晶粒分为第二合格晶粒和第二不合格晶粒。本申请的检测方法在晶圆阶段进行复判，可以及时地将不合格晶粒挑选出来，避免不合格晶粒分选排列到成品方片上，从而省去人工目检的步骤，进而节省了大量的人力和显微镜成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 晶粒 外观 检测 方法 | ||
【主权项】：
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