[发明专利]测量系统及测量DOI分辨率的方法在审
| 申请号： | 202111205005.4 | 申请日： | 2021-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN115980818A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 汪飞;程冉;肖鹏;谢庆国 | 申请（专利权）人： | 合肥锐世数字科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人： | 苗娟 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥市中国（安徽）自由贸易试验*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的一种测量系统及测量DOI分辨率的方法，测量系统包括准直装置、支撑装置和移动装置，其中，准直装置包括第一载物台，第一载物台用于承载电路板、放射源和准直晶体；支撑装置包括第二载物台，第二载物台用于承载待测探测器；移动装置用于承载准直装置和支撑装置，并使准直装置和支撑装置在移动装置上产生相对位移；测量方法包括：通过所述移动装置调整准直探测器与待测探测器的间距，测量不同位置的DOI分辨率。本发明能够保证放射源与准直晶体的同步移动，方便、准确的实现DOI测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 系统 doi 分辨率 方法 | ||
【主权项】：
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