[发明专利]一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202111227665.2 | 申请日： | 2021-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN114002577A | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 樊光锋;刘蓓;郭雷;李方悦 | 申请（专利权）人： | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 赵菲 |
| 地址： | 250001 山东省济南市自由贸易试验*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质。本申请将待测芯片划分为多个子系统；将每个子系统划分为多个模块，并将所有模块划分至多个集合；针对任一个集合，基于该集合中的各模块在待测芯片中的物理位置，为该集合中的各模块就近选择测试管脚，并基于所选择的测试管脚并行测试该集合中的各模块，从而针对更小粒度的模块进行测试，扫描路径更短，降低了物理布线难度，还能实现芯片管脚的分时复用，降低了测试开销。相应地，本申请提供的一种芯片测试装置、设备及可读存储介质，也同样具有上述技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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