[发明专利]半导体发光元件及半导体发光元件的制造方法在审
申请号: | 202111231143.X | 申请日: | 2021-10-22 |
公开(公告)号: | CN114744093A | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 丹羽纪隆;稻津哲彦 | 申请(专利权)人: | 日机装株式会社 |
主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44;H01L33/00 |
代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立;丁惠敏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明可提高半导体发光元件的可信性及发光效率。半导体发光元件(10)包括保护层(38),该保护层(38)具有被设置在p侧接触电极(30)上的p侧焊盘开口(38p)、以及被设置在n侧接触电极(34)上的n侧焊盘开口(38n),覆盖n型半导体层(24)、活性层(26)及p型半导体层(28)的侧面(24c)、(26c)、(28c),并在与p侧焊盘开口(38p)不同的位置处覆盖p侧接触电极(30),在与n侧焊盘开口(38n)不同的位置处覆盖n侧接触电极(34)。保护层(38)包含:第1电介质层(42),其由SiO |
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搜索关键词: | 半导体 发光 元件 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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