[发明专利]一种电容式指纹识别芯片大板FT测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202111238564.5 | 申请日： | 2021-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN114019352A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 蒙绍敏;李兵;程亚宇 | 申请（专利权）人： | 深圳贝特莱电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳砾智知识产权代理事务所(普通合伙) 44722 | 代理人： | 翁治林 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电容式指纹识别芯片大板FT测试系统及测试方法，涉及半导体器件FT测试技术领域，解决了现有电容式指纹识别芯片的FT测试存在测试效率与准确性低的技术问题。该测试系统包括芯片大板、自动测试设备以及PC主机；芯片大板固定在自动测试设备上，用于放置n个待测芯片，自动测试设备与PC主机通信连接，自动测试设备连接有m个测试板，m个测试板均与PC主机相连；在PC主机的控制下，m个测试板一次与n中的m个待测芯片连接，并对连接的待测芯片进行分时测试。另外，本发明还提供了一种电容式指纹识别芯片大板FT测试方法。本发明不仅提升了FT测试系统的测试速度，还提高FT测试系统的稳定性和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 指纹识别 芯片 ft 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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