[发明专利]一种半导体器件的自动化测试装置

摘要

本发明涉及半导体器件技术领域，具体的说是一种半导体器件的自动化测试装置，包括机箱，所述机箱上侧内部设有传导组件和电流输出控制组件，所述机箱一侧固定连接有测温箱，所述机箱靠近测温箱的一侧固定连接有水箱，所述水箱内部设有导温组件，所述机箱内部固定安装有固定组件，所述机箱上侧内部固定安装有传导组件。通过机箱内部固定安装有两个电动推杆，两个电动推杆输出端分别固定连接有对接组件，使得使用者可以通过控制电动推杆调整两个对接组件，从而可以于不同规格的制冷片进行通电对接操作，通过固定环内部固定连接有第一导电杆，使得第一导电杆可以与制冷片进行对接导电无需频繁的更换检测设备。