[发明专利]半导体结构的制作方法以及半导体结构在审

专利信息
申请号: 202111258549.7 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN114023759A 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 杨永刚 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11575;H01L27/11582
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 王晓玲
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供了一种半导体结构的制作方法以及半导体结构,该方法包括:形成预备基底结构,预备基底结构包括衬底、堆叠结构、栅介电层以及介质材料层,其中,堆叠结构位于衬底上,堆叠结构包括本体结构和位于本体结构中的沟道孔,本体结构包括交替设置的绝缘介质层和牺牲层,栅介电层位于沟道孔的内壁上,介质材料层位于栅介电层的部分表面上,且介质材料层的裸露表面低于本体结构的远离衬底的表面;去除部分的栅介电层,使得沟道孔的远离衬底的部分侧壁裸露,剩余的预备基底结构为基底结构,沟道孔中未被填充的部分形成凹槽;在凹槽中形成插塞;在插塞的裸露表面上形成导电柱。这样保证了半导体结构的成本较低。
搜索关键词: 半导体 结构 制作方法 以及
【主权项】:
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