[发明专利]半导体结构的制作方法以及半导体结构在审
申请号: | 202111258549.7 | 申请日: | 2021-10-27 |
公开(公告)号: | CN114023759A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 杨永刚 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11575;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 王晓玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请提供了一种半导体结构的制作方法以及半导体结构,该方法包括:形成预备基底结构,预备基底结构包括衬底、堆叠结构、栅介电层以及介质材料层,其中,堆叠结构位于衬底上,堆叠结构包括本体结构和位于本体结构中的沟道孔,本体结构包括交替设置的绝缘介质层和牺牲层,栅介电层位于沟道孔的内壁上,介质材料层位于栅介电层的部分表面上,且介质材料层的裸露表面低于本体结构的远离衬底的表面;去除部分的栅介电层,使得沟道孔的远离衬底的部分侧壁裸露,剩余的预备基底结构为基底结构,沟道孔中未被填充的部分形成凹槽;在凹槽中形成插塞;在插塞的裸露表面上形成导电柱。这样保证了半导体结构的成本较低。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 制作方法 以及 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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