[发明专利]测量耐久性的方法及执行磨损均衡的方法在审
| 申请号： | 202111265668.5 | 申请日： | 2021-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN114490428A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 吴玄教;崔相炫;卢羌镐 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F12/02 | 分类号： | G06F12/02;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜;王凯霞 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测量包括多个存储块的非易失性存储器件的耐久性的方法，所述方法包括：周期性地接收用于所述多个存储块当中的第一存储块的读取命令；基于所述读取命令，对所述第一存储块周期性地执行读取操作；基于所述读取操作的结果，周期性地输出与所述第一存储块相关联的至少一个单元计数值；响应于与所述第一存储块相关联的耐久性信息的周期性接收，周期性地存储所述耐久性信息，所述耐久性信息通过累积所述至少一个单元计数值被获得。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 耐久性 方法 执行 磨损 均衡 | ||
【主权项】：
暂无信息
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