[发明专利]一种原位快速测量微/纳发光材料变温光谱的方法在审
申请号: | 202111288222.4 | 申请日: | 2021-11-02 |
公开(公告)号: | CN113866150A | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 李金萍;海热古·吐逊;柳旭;郭蕾;付正坤;张正龙;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 陕西师范大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 西安永生专利代理有限责任公司 61201 | 代理人: | 高雪霞 |
地址: | 710062 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种原位快速测量微纳发光材料变温光谱的方法,该方法以吸收截面大的小尺寸银纳米岛作为热源,在光照条件下使银纳米岛在极短的时间内产生极高的热量,并传导至发光材料,使其局域温度瞬间升高;银纳米岛作为微纳尺度的可控热源,热效应可以通过光源特性进行调控,进而实现热源功率和发光材料环境温度的有效控制。本发明将银纳米岛作为可控热源,实现了对微纳发光材料变温光谱的测量,该方法简单易行,升温、降温过程快速,所需激发功率密度小。 | ||
搜索关键词: | 一种 原位 快速 测量 发光 材料 光谱 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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