[发明专利]一种原位快速测量微/纳发光材料变温光谱的方法在审

专利信息
申请号: 202111288222.4 申请日: 2021-11-02
公开(公告)号: CN113866150A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 李金萍;海热古·吐逊;柳旭;郭蕾;付正坤;张正龙;郑海荣 申请(专利权)人: 陕西师范大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 西安永生专利代理有限责任公司 61201 代理人: 高雪霞
地址: 710062 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种原位快速测量微纳发光材料变温光谱的方法,该方法以吸收截面大的小尺寸银纳米岛作为热源,在光照条件下使银纳米岛在极短的时间内产生极高的热量,并传导至发光材料,使其局域温度瞬间升高;银纳米岛作为微纳尺度的可控热源,热效应可以通过光源特性进行调控,进而实现热源功率和发光材料环境温度的有效控制。本发明将银纳米岛作为可控热源,实现了对微纳发光材料变温光谱的测量,该方法简单易行,升温、降温过程快速,所需激发功率密度小。
搜索关键词: 一种 原位 快速 测量 发光 材料 光谱 方法
【主权项】:
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