[发明专利]一种提拉法生长氧化镓晶体的双腔结构与方法有效

专利信息
申请号: 202111306205.9 申请日: 2021-11-05
公开(公告)号: CN114232070B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 张辉;王嘉斌;夏宁;马可可;刘莹莹;杨德仁 申请(专利权)人: 杭州镓仁半导体有限公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/16
代理公司: 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260 代理人: 姚宇吉
地址: 311202 浙江省杭州市萧山区宁围*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种提拉法生长氧化镓晶体的双腔结构与方法,包括主腔体、第二腔体、加热线圈、保温材料组件以及提拉旋转装置,所述第二腔体设置于主腔体的顶端并与主腔体相通,所述主腔体中心处设有坩埚托与加热坩埚,所述坩埚托下方设有坩埚升降装置;其中,所述第二腔体与主腔体之间设有推拉式挡块装置,用于将第二腔体与主腔体隔绝;所述提拉旋转装置上设有籽晶更换装置;在晶体原料熔融引晶生长前,将籽晶下降至主腔体接触熔体,通过快速放肩,包覆漂浮物生长,然后控制籽晶杆提升至本发明设计中提及的第二腔体内,通过设计的中间隔板装置密封主腔体,更换新的籽晶后重新引晶生长,从而避免熔体表面漂浮物对后续晶体生长产生影响。
搜索关键词: 一种 提拉法 生长 氧化 晶体 结构 方法
【主权项】:
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