[发明专利]一种元器件缺陷检测的方法及装置在审
| 申请号： | 202111314595.4 | 申请日： | 2021-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN114155197A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 张海明;唐章东;李璇;王征;范晓明;辛奇;王雪生;王贺;刘敏;范壮壮;高华兴 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06T7/194;G06T7/73;G01N23/04;G06V10/74;G06T5/00;G06T5/10 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 胡健男 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标元器件图像；通过预设图像分割算法，将目标元器件图像从所述第二图像中分割出来；基于局部信息熵结合区域生长算法，对所述X射线图像中的多余物进行检测，以检测到所述目标元器件的缺陷。本申请实施例提供的元器件缺陷检测方法，高效且可节省大量人力资源，所得检测结果准确、可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 元器件 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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