[发明专利]一种高故障覆盖率的阻变存储器的测试方法在审
| 申请号： | 202111336537.1 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN114171100A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 鹿洪飞;杨建国;蒋海军;周睿晰 | 申请（专利权）人： | 之江实验室 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/36 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 孙孟辉 |
| 地址： | 311100 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种高故障覆盖率的阻变存储器的测试方法，包括以下步骤：一、对阻变存储器的存储单元进行Forming操作；二、按照地址升序对阻变存储单元进行读1和写0操作；三、按照地址升序对阻变存储单元进行2次连续的读0操作，随后执行1次写1操作；四、按照地址升序对阻变存储单元依次执行读1、读1、写0、写1和读1操作；五、按照地址降序对阻变存储单元进行读1、写0、读0操作；六、按照地址降序对阻变存储单元进行写1、写0、读0操作；七、按照地址升序对阻变存储单元进行读0、写1、读1操作；八、延迟或暂停一段时间，按照地址升序对阻变存储单元进行读1、写0、读0操作；九、输出所有阻变存储单元的故障一览表。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 故障 覆盖率 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
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