[发明专利]一种采用AI技术检测半导体产品质量的方法在审
| 申请号： | 202111367351.2 | 申请日： | 2021-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN115902559A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 孙毅堂;竺时育;汪俊宇;吴芳梅;耿庆栋 | 申请（专利权）人： | 昆山冠天智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 刘洪勋 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市昆山市花*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种采用AI技术检测半导体产品质量的方法，包括以下步骤：步骤1：检测设备对待检测的半导体产品进行检测，并将检测的后的结果显示在显示器上；步骤2：采用人工的方式对步骤1检测的半导体产品再次进行检测，由人工进行判断对检测设备检测的产品再次确认是否为合格的产品；步骤3：在对步骤1和步骤2不间断的融合检测后，通过检测设备对半导体产品进行检测。本发明能提高对产品的质量检测的同时还能提高检测的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 ai 技术 检测 半导体 产品质量 方法 | ||
【主权项】：
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