[发明专利]一种多孔硅基薄膜及制备方法在审

专利信息
申请号: 202111382139.3 申请日: 2021-11-22
公开(公告)号: CN114107925A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 王君;葛旭辉;孙中贵;张致雅 申请(专利权)人: 兰州大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/08;C23C14/16;C23C14/58;H01M4/134;H01M4/1395;H01M4/36;H01M4/38;H01M4/62;H01M10/0525
代理公司: 北京兴智翔达知识产权代理有限公司 11768 代理人: 李琴
地址: 730000 甘肃*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种多孔硅基薄膜的制备方法,采用物理气相沉积或者化学气相沉积的方法将Si薄膜与选定的另一种薄膜制备成多层膜结构,被选定的另一种薄膜材料既作为Si扩散出来的辅助材料,又作为Si复合负极中的复合材料;然后在适当的温度下进行热处理,发生非对称扩散,部分硅颗粒从TiO2中扩散出来,之后将扩散到表面的Si去除即得到具有空隙结构的Si基多层膜负极。本发明相比于其他一些Si基薄膜电极的优点:Si基薄膜电极结构稳定,能量密度高,寿命长;Si薄膜造孔方便,容易控制且环境友好;薄膜韧性好,可制备较厚薄膜电极;本方法制得的电极片不仅能缓解Si的体积膨胀、提高锂离子扩散速率,还能保持优异的循环稳定性。
搜索关键词: 一种 多孔 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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