[发明专利]显示装置和检查显示装置的缺陷的方法在审
申请号: | 202111384681.2 | 申请日: | 2021-11-19 |
公开(公告)号: | CN114566524A | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 朴承铉;郑胤谟 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L23/544;H01L21/66;G01N21/88;G01N27/20;G09G3/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王学强;张晓 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了一种显示装置和检查显示装置的缺陷的方法,所述显示装置包括:基底,包括显示区域和与显示区域相邻的测试区域;下电极,在显示区域中设置在基底上;公共层,设置在下电极上;上电极,设置在公共层上;以及测试元件组。测试元件组包括:多个电极图案,与下电极设置在同一层中并且在测试区域中设置在基底上;测试公共层,与公共层设置在同一层中并且设置在多个电极图案上,其中,通过测试公共层限定多个开口以暴露多个电极图案中的每个电极图案的一部分;以及电极层,与上电极设置在同一层中,在测试公共层上并且通过开口与多个电极图案接触。 | ||
搜索关键词: | 显示装置 检查 缺陷 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星显示有限公司,未经三星显示有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111384681.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:接口电路、源极驱动器以及显示装置
- 下一篇:半导体装置及半导体装置的制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的