[发明专利]一种半导体器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111397671.2 申请日: 2021-11-23
公开(公告)号: CN114121887A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 潘震;伍术 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L23/00;H01L21/768;H01L27/11582;H01L27/1157
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 柳虹
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供了一种半导体器件及其制造方法,半导体器件包括衬底一侧的功能层,以及功能层背离衬底一侧的连接线,功能层中可以包括多个功能单元,以及在垂直所述衬底表面的方向上贯穿所述功能层的隔离结构,所述隔离结构在平行所述衬底表面的方向延伸,以将所述多个功能单元分隔为多组;所述连接线用于与所述功能单元电连接,隔离结构与功能层形成方式不同,延伸方向不同,因此隔离结构和功能层的接触位置的机械强度较差,容易断裂,因此可以设置隔离结构和连接线在衬底表面上的投影相交,即可以在隔离结构正上方设置连接线,连接线跨过隔离结构设置,从而可以增强隔离结构和功能层的接触位置的机械强度,从而增强半导体器件的整体机械强度。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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