[发明专利]一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法在审
| 申请号： | 202111407550.1 | 申请日： | 2021-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN114113893A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 陈龙;解维坤;李荣杰;张凯虹;章慧彬;虞勇坚 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/08 | 分类号： | G01R31/08;G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 叶昕;杨立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法，包括故障定位算法、微系统芯片测试板、ATE、测试机台程序，测试方法通过调用故障定位算法生成相应的配置向量和测试向量，同时基于ATE平台设计的测试机台程序调用配置向量对微系统芯片进行配置，包括如下步骤：按照待测微系统芯片需求焊接微系统芯片测试板；连接微系统芯片、微系统芯片测试板和测试机；依据微系统芯片互联测试算法生成配置向量和测试向量；测试机将配置向量通过JTAG接口烧写入内部芯片；测试机对管脚输入相应的信号；对比测试向量和响应向量是否一致进而判断芯片是否故障。本发明测试方法在不增加成本的基础上，将微系统芯片内部互联线故障精准定位并且能够快速实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 芯片 内部 互联线 故障 快速 测试 方法 | ||
【主权项】：
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