[发明专利]一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法在审
| 申请号： | 202111420243.7 | 申请日： | 2021-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN114184928A | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 黄平洋;田野;张丽霞;巫帮锡;曾小马 | 申请（专利权）人： | 深圳同兴达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/00 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 刘曰莹;冯建华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法，该检测系统包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，根据SD器件型号存储多组标准数据组形成标准数据库，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；选择调用模块用于选择SD器件的型号；电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增；测试模块用于导通SD器件两端，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行比对；输出模块用于输出检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 模组 中肖特基 二极管 性能 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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