[发明专利]一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202111449083.9 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114201941A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 鄢其力 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质，涉及电子设计自动化领域，能够有效提高芯片性能验证效率。所述方法包括：通过性能统计管理平台，从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息；其中，所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信，所述预设模型环境包括以下至少一种：功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境；触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号；在所述验证控制信号的控制下，通过预设的性能统计组件，从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据，并对所述模型运行数据进行性能统计，得到对应的性能统计结果。本发明适用于芯片性能验证中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 性能 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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