[发明专利]一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路在审
| 申请号： | 202111449125.9 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114236347A | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 王贺;屈若媛;张红旗;张大宇;唐章东;王征;宁永成;张松;崔华楠;李健焘;吉美宁;梁培哲 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 任林冲 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路，包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路；测试机包括：数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS；功耗采集单元包括2路采集通道：通道A和通道B，两通道公用一路参考端；被测电路包括：电源端口VCC、指令集输入总线I/O和地端口GND；计算机通过总线A与测试机相连，通过总线B与功耗采集单元相连；测试机的数字通道A连到功耗采集单元通道A。本发明采用数据相关性分析方法对集成电路功耗曲线进行一致性分析，从量级和时间两个维度分析集成电路在接收不同指令时的功耗变化，从而在黑盒状态下实现集成电路有效指令集的筛选。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 典型 功耗 分析 集成电路 保留 指令 测试 电路 | ||
【主权项】：
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