[发明专利]一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法在审

专利信息
申请号: 202111466523.1 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114154858A 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 刘松坡;王哲 申请(专利权)人: 武汉利之达科技股份有限公司;湖北利之达电子科技有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q10/10;G06Q50/04
代理公司: 湖北高韬律师事务所 42240 代理人: 鄢志波
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法,步骤1:采集客户质量需求,包括陶瓷基板上的总触点数、可拒接受质量水平和消费者风险;步骤2:厂家设定检测质量要求,包括可接受质量水平和生产者风险;步骤3:根据客户质量需求和厂家检测质量要求制定抽样方案,确定抽样方案中所需样本触点数和不导电触点数阈值;步骤4:使用飞针机进行触点通断性测试,得到不导电触点数。可根据客户需求快速制定抽样检测方案,该检测方案在保持交付给客户的成品维持符合要求的次品率同时,所检验的触点数量大大减少,可有效节约检测时间,提高生产效率,具有很高的经济效益。
搜索关键词: 一种 提高 陶瓷 性能 检测 效率 抽样 方法
【主权项】:
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