[发明专利]光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202111477174.3 | 申请日： | 2021-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN113865622A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 周烽;王侃;刘昊扬 | 申请（专利权）人： | 北京诺亦腾科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人： | 张子青 |
| 地址： | 100088 北京市西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质。本公开通过调整可滑动设备的位置、标记点阵列平板的形状、尺寸以及标记点在标记点阵列平板上的排列方式，可以不受空间限制实现对光学定位系统精度的检测，并且只需要上位机和可滑动设备就可以完成对光学定位系统精度的检测，提高了检测方法的灵活性的同时，以较低的成本达到了较好的精度检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 定位 系统 精度 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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