[发明专利]一种铟银合金高真空密封性能检测方法在审
| 申请号： | 202111480008.9 | 申请日： | 2021-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN114323478A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 王克成;李得天;谢小龙;郑瀚;段立军;周斌;王东栋;高波;谭立;王海龙 | 申请（专利权）人： | 兰州空间技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20;F16J15/08 |
| 代理公司： | 北京元理果知识产权代理事务所(普通合伙) 11938 | 代理人： | 饶小平 |
| 地址： | 730013 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及空间真空密封技术领域，具体而言，涉及一种铟银合金高真空密封性能检测方法，包括如下步骤：步骤1：抽取铟银合金密封产品样本；步骤2：对铟银合金密封产品的样本进行挤压密封，模拟密封产品的工作情况；步骤3：通过环境工况模拟系统对铟银合金密封样本进行实际环境工况模拟；步骤4：通过快速气路接头，将铟银合金密封样本与真空抽气系统连接，并且抽气至本底；步骤5：打开真空截止阀，通过氦质谱检漏仪完成铟银合金密封产品样本漏率的检测，即得到铟银合金高真空密封产品的漏率。本申请能够模拟铟银合金密封产品所经历的各种空间环境，对铟银合金密封产品的漏率进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 合金 真空 密封 性能 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰州空间技术物理研究所，未经兰州空间技术物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111480008.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种一体化的可步进式电极支架
- 下一篇：一种卫星无拖拽技术在轨验证方法
