[发明专利]一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法在审
| 申请号： | 202111484974.8 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114154336A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 肖育咏;张继超;张志臻;黄旭文 | 申请（专利权）人： | 佛山市中研非晶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/18;G06F119/04 |
| 代理公司： | 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 | 代理人： | 庞伟健;谭健洪 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其步骤，S1、将单匝闭环的铁芯放置在测试架上，铁芯固有的饱和磁通密度为B |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 损耗 模拟 测试 筛选 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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