[发明专利]射频裸晶片测试系统和测试方法有效

专利信息
申请号: 202111495073.9 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN113903675B 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 倪卫华;郑朝晖 申请(专利权)人: 江山季丰电子科技有限公司;上海季丰电子股份有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;G01R1/04;G01R31/26
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 刘桐亚
地址: 324199 浙江省衢州*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种射频裸晶片测试系统和测试方法,涉及晶片测试的技术领域,射频裸晶片测试系统包括:电源设备、信号发生器、信号分析仪、控制信号发射主板、上位机、预设COB板和多个射频探针。该测试系统将射频探针和COB技术相结合,将待测射频裸晶片的低频引脚从探针的连接方式改为打线连接方式,降低了测试系统中探针的使用数量,从而极大地减少了探针的操作时间,提高了射频裸晶片的测试效率,同时也提高了测试系统的稳定性。
搜索关键词: 射频 晶片 测试 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江山季丰电子科技有限公司;上海季丰电子股份有限公司,未经江山季丰电子科技有限公司;上海季丰电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111495073.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top