[发明专利]晶圆键合结构和晶圆键合方法在审

专利信息
申请号: 202111523806.5 申请日: 2021-12-14
公开(公告)号: CN114242679A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 马力;项敏;李红雷;郑子企 申请(专利权)人: 通富微电子股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L21/60;H01L29/06
代理公司: 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 代理人: 李明;赵吉阳
地址: 226004 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本公开提供一种晶圆键合结构和晶圆键合方法。晶圆键合结构包括相互键合的第一晶圆和第二晶圆,所述第一晶圆为待减薄晶圆,所述第一晶圆朝向所述第二晶圆一侧的边缘区域设置有削边结构,所述削边结构的横截面呈非直角形。本公开的晶圆键合结构,通过在待减薄的晶圆的边缘区域设置非直角形的削边结构,在键合以后的减薄过程中,可以有效的减少由于减薄设备(如研磨盘等)产生的压力所导致的崩边、裂纹或裂片等现象的发生,从而可以有效降低晶圆在减薄过程中发生裂片的风险,提高晶圆的制作良率,降低制作成本。
搜索关键词: 晶圆键合 结构 方法
【主权项】:
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