[发明专利]一种MOS耐压及漏电流验证方法、系统和计算机终端在审
申请号: | 202111534675.0 | 申请日: | 2021-12-15 |
公开(公告)号: | CN114186525A | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 四川创安微电子有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392;G06F30/394;G06F30/398 |
代理公司: | 成都行之智信知识产权代理有限公司 51256 | 代理人: | 徐骥 |
地址: | 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种MOS耐压及漏电流验证方法、系统和计算机终端。其中,MOS耐压及漏电流验证方法包括以下步骤:S1:获取多电源域集成电路版图;S2:对多电源域集成电路版图进行MOS耐压验证和漏电流验证,输出验证结果;S3:若所述验证结果为存在MOS耐压或漏电流中的至少一种,则执行S4;否则,执行S5;S4:根据所述验证结果对多电源域集成电路版图进行修改,得到修改后的多电源域集成电路版图,执行所述S1‑S3;S5:输出多电源域集成电路版图。本发明不依赖于人的经验,整个验证过程严格按照验证规则和既定流程执行,采用计算机验证替代人工检查,从而大幅提高验证效率和准确率。 | ||
搜索关键词: | 一种 mos 耐压 漏电 验证 方法 系统 计算机 终端 | ||
【主权项】:
暂无信息
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