[发明专利]面向ATE测试设备的集成电路测试激励生成方法有效
| 申请号： | 202111568525.1 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114236359B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 曲芳;张永华;谢翰威;史凌艳;翁雷;张涛;吴利;仇志豪 | 申请（专利权）人： | 无锡江南计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F30/3308;G06F30/327 |
| 代理公司： | 苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 214038 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种面向ATE测试设备的集成电路测试激励生成方法，包括以下步骤：步骤一、构建全片设计模型，步骤二、构建模拟验证环境，步骤三、编写测试文件，步骤四、按照四层结构、在不同验证平台、基于行为级进行仿真生成不同层次的测试激励，步骤五、融合形成完整测试激励，将在不同验证平台上生成的测试激励，在应用层框架的基础上，根据调用及层级关系，融合形成一个完整的测试激励。本发明可以降低测试激励生成环境构建的难度和复杂度，提高测试激励环境构建的兼容性和适应性，降低测试激励生成时间，提高测试激励生成效率，提高测试激励文件内信息的直观性和可读性。 | ||
| 搜索关键词： | 面向 ate 测试 设备 集成电路 激励 生成 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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