[发明专利]一种测量装置及测量系统在审
| 申请号： | 202111616243.4 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114325319A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李明军;刘延迪;王奇之;李晶;郑永丰 | 申请（专利权）人： | 北京航天测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人： | 韩月玲 |
| 地址： | 100041 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种测量装置及测量系统，属于微波测量技术领域。其中，一种测量装置，包括：矢量源、开关矩阵、信号分离装置和接收机；所述矢量源连接所述开关矩阵，所述开关矩阵分别与所述信号分离装置、所述接收机和待测件连接；所述矢量源，用于通过所述开关矩阵为所述信号分离装置提供测量的激励信号；所述信号分离装置，用于基于所述激励信号产生入射信号、反射信号和传输信号，并进行分离；所述接收机，用于得到测量结果。本测量装置使用开关矩阵进行路径选择，可以方便快捷通过信号分离装置和接收机得到入射信号、反射信号和传输信号的测量结果，实现对待测件进行端口参数测量，解决了射频芯片端口参数测量的技术问题，进而验证了射频芯片的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
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