[发明专利]一种利用浅槽沟道隔离制造电源线的方法在审

专利信息
申请号: 202111618101.1 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114464574A 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 陈睿;都安彦;韦亚一;邵花;杨红;罗军;王文武 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/8238 分类号: H01L21/8238;H01L27/092
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 史晶晶
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种利用浅槽沟道隔离制造电源线的方法。一种利用浅槽沟道隔离制造电源线的方法,包括下列步骤:提供基底,所述基底包括PMOS区域和NMOS区域,所述PMOS区域用于形成PMOS管,所述NMOS区域用于形成NMOS管;在所述PMOS区域和所述NMOS区域形成鳍片;在所述鳍片间填充隔离材料,形成浅沟槽隔离;在所述浅沟槽隔离中刻蚀出沟槽;在所述沟槽内掩埋电源线。进行后续工艺。本发明在浅沟槽隔离中预先掩埋电源线,避免了后制程中金属线过于拥挤导致的宽度受限、光刻工艺窗口小、电流短路、散热差等问题,进而缩小了标准单元面积,提高了性能。
搜索关键词: 一种 利用 沟道 隔离 制造 电源线 方法
【主权项】:
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