[发明专利]内存自检装置及方法在审
| 申请号： | 202111629887.7 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114333959A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 常钦皓;张远 | 申请（专利权）人： | 上海集成电路研发中心有限公司;上海微电子装备（集团）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种内存自检装置及方法，包括控制模块，用于根据输入的启动使能信号生成目标输入信号，并分别生成第一选择控制信号和第二选择控制信号；第一选择模块，用于接收第一选择控制信号和目标输入信号，并输出第一选择输出信号至待测存储模块；第二选择模块，用于接收第二选择控制信号和第一存储输出信号，并对初始信号和第一存储输出信号进行数据选择并产生第二选择输出信号；接收模块，用于接收第一存储输出信号和检测控制信号；其中，接收模块根据检测控制信号对第一存储输出信号进行检测并得到检测结果，控制模块根据检测结果输出目标输出信号。本发明能够对存储器进行有效检查，提高检测效率，且减少了逻辑资源的占用。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 自检 装置 方法 | ||
【主权项】：
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