[发明专利]一种镁基电子探针微束成分分析标准样品及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111631842.3 申请日: 2021-12-28
公开(公告)号: CN114295663A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 朱继浩;李艾燃 申请(专利权)人: 自然资源部第二海洋研究所
主分类号: G01N23/225 分类号: G01N23/225;G01N23/2202
代理公司: 浙江专橙律师事务所 33313 代理人: 蒋诚吏
地址: 310012 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种镁基电子探针微束成分分析标准样品及其制备方法,属于电子探针微束分析技术领域。一种镁基电子探针微束成分分析标准样品的制备方法,其特征在于:制备方法主要包括如下步骤:S1、熔融处理:将高纯度的Mg和高纯度的Sb单质粉末进行均匀混合,使用钽管将Mg和Sb混合物密封,接着再将钽管密封在石英玻璃管中,然后将石英玻璃管置于马弗炉中,在850℃进行高温熔融处理;S2、退火处理:对Mg3Sb2进行退火处理,以2℃/小时的速度从850℃降温至650℃,使Mg3Sb2单晶缓慢长大。使用Mg3Sb2单晶作为标准样品,能够有效消除基体效应对镁基热电材料电子探针微区原位成分分析的影响,主要用于对镁基热电材料测试数据进行校准,还可用于对测试过程进行质量控制。
搜索关键词: 一种 电子探针 成分 分析 标准 样品 及其 制备 方法
【主权项】:
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