[发明专利]椭偏仪光谱浮动模型及建立方法在审

专利信息
申请号: 202111658726.0 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114324184A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 陈旺;薛英武;劳开满 申请(专利权)人: 广州粤芯半导体技术有限公司
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G06F30/20
代理公司: 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 代理人: 钟晶
地址: 510000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种椭偏仪光谱浮动模型及建立方法,所述方法包括:建立量测程式,对晶圆进行一次量测,并收集所述晶圆膜层的量测光谱数据;使用OLSA软件,对所述量测光谱数据进行拟合;通过编辑所述晶圆对应膜层的射散模型,增加一个谐振子,并将所述谐振子的初始值改为0;在所述量测程式输出项里面选择所述谐振子。本发明通过添加一个谐振子建立椭偏仪光谱浮动模型,与现有技术相比,采用该模型能够获得比较精确的量测结果,从而明确不同晶圆的同一膜层之间的差异、以及同一晶圆内不同位置处的同一膜层之间的差异,从而准确反应出膜层制作过程的均匀性。
搜索关键词: 椭偏仪 光谱 浮动 模型 建立 方法
【主权项】:
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