[发明专利]一次开启式上电检测电路在审
申请号: | 202111666691.5 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN114461463A | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 胡容铭;索鑫;马松;宋霜 | 申请(专利权)人: | 上海聚栋半导体有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G11C5/14;G11C7/20;G11C29/12 |
代理公司: | 上海十蕙一兰知识产权代理有限公司 31331 | 代理人: | 于露萍 |
地址: | 201306 上海市浦东新区海港大道*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于集成电路技术领域,具体涉及一种上电检测电路。一种一次开启式上电检测电路,包括一电压检测电路,具有供电电源端和上电复位信号端;电压检测电路还包括:一比较器,同相输入端经第一电阻连接供电电源端,反向输入端连接检测点电压端,输出端为上电复位信号端,控制端连接上电初始化信号端;一第一MOSFET管,栅极连接上电初始化信号端,漏极经第二电阻连接第一电阻,源极接地。本发明可以在芯片初始化工作完成后,将电压检测电路进入低功耗模式,避免了电压检测电路的静态功耗。 | ||
搜索关键词: | 一次 开启 式上电 检测 电路 | ||
【主权项】:
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