[发明专利]一种在线修改测试向量进行热点分析的方法和系统在审
| 申请号： | 202111669983.4 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114487769A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 刘威龙;季春葵;郑朝晖 | 申请（专利权）人： | 上海季丰电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 党蕾 |
| 地址： | 201100 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于电子技术领域，具体涉及一种热点分析的方法和系统，包括：S1：将一失效芯片设置在一热点分析设备使用的测试板上，并通过单片机推送一测试程序到所述失效芯片中，通过一示波器捕捉波形比对一自动测试设备波形，确认所述失效芯片正常运行的测试程序；S2：通过所述热点分析设备对所述失效芯片进行一热点分析。有益效果：实现了对失效芯片产品在自动测试状态下进行热点分析，提高了产品的检出率，有效改善了芯片产品的生产质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 在线 修改 测试 向量 进行 热点 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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