[发明专利]一种芯片测试方法及系统在审
| 申请号： | 202111675911.0 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114295963A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 程子翔;任殿升;陈余;边慧;周大锋 | 申请（专利权）人： | 龙迅半导体（合肥）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 柳虹 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试方法及系统，第一芯片至少包括标准视频接口DP信号接收端口，第一芯片利用DP信号接收端口接收第二芯片利用DP信号发送端口发送的测试数据，第一芯片对接收到的测试数据进行误码统计，得到误码数量，误码数量能够反映第一芯片是否能够正常接收DP信号，也就是说，采用能够发送高速DP信号的第二芯片对第一芯片接收高速DP信号的性能进行测试，利用第一芯片接收高速的DP信号的误码数量反映第一芯片是否能够正常接收DP信号，相较于利用昂贵并且数据发送速率较低的测试机对第一芯片进行测试，能够满足DP协议芯片的高速测试需求，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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