[发明专利]测试方法、装置、存储介质以及处理器在审
| 申请号： | 202111679938.7 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114328261A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 郑志方;陈耀方;赵丽莉;谷双平 | 申请（专利权）人： | 浙江中控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 张文华 |
| 地址： | 310000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试方法、装置、存储介质以及处理器。其中，该方法包括：读取测试用例，其中，测试用例至少包括：目标控制模式对应的输入参数，以及目标控制模式下的期望区间，期望区间包括：测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间；将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块，得到输出结结果；判断输出结果是否属于期望值区间，得到判断结果，其中，输出结果包括：测量值与反馈值；根据判断结果确定PID功能块是否通过测试。本申请解决了由于相关技术中需要手动构建测试用例对PID功能块进行测试，并通过直观感觉判断输出结果造成的测试效率低下，测试结果不准确的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 存储 介质 以及 处理器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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