[发明专利]芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111681126.6 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114357939A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 王佩;高红莉;潘于 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F11/22;G06F115/02;G06F115/08 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明的实施例公开了一种芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，用以在IP改动后集成到SoC之前对IP进行验收，避免因IP质量不过关而把问题带入SoC。所述芯片IP准入验证方法包括：获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 ip 准入 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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